您好！歡迎訪問北京同德創(chuàng)業(yè)科技有限公司網(wǎng)站！
全國服務咨詢熱線:
13121899399
13121899399
簡要描述：石油產(chǎn)品恩氏粘度計雙管 型號：TD-WNE-1B本儀器是根據(jù)中華人民共和國標準GB/T 266《石油產(chǎn)品恩氏粘度測定法》、中華人民共和國行業(yè)標準JTJ 052《公路工程瀝青及瀝青混合料試驗規(guī)程》中的T0622《瀝青恩格拉粘度試驗（恩格拉粘度計法）》、上海市企業(yè)標準Q/YXYY11《恩氏粘度計》規(guī)定的要求設計制造的，于測定液體在一定溫度、容積的條件下，從恩氏粘度計流出的時間（秒）
產(chǎn)品型號：TD-WNE-1B廠商性質(zhì)：其他更新時間：2025-08-26訪 問 量：536產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
| 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 加工定制 | 否 |
|---|
石油產(chǎn)品恩氏粘度計雙管型號：TD-WNE-1B
本儀器是根據(jù)中華人民共和國標準GB/T 266《石油產(chǎn)品恩氏粘度測定法》、中華人民共和國行業(yè)標準JTJ 052《公路工程瀝青及瀝青混合料試驗規(guī)程》中的T0622《瀝青恩格拉粘度試驗（恩格拉粘度計法）》、上海市企業(yè)標準Q/YXYY11《恩氏粘度計》規(guī)定的要求設計制造的，于測定液體在一定溫度、容積的條件下，從恩氏粘度計流出的時間（秒）與蒸餾水在20℃時流出的時間（秒）之比，即為液體的恩氏粘度，單位為恩格拉度。
一、主要技術(shù)特點
1、本儀器為臺式、一體、雙內(nèi)鍋結(jié)構(gòu)，內(nèi)、外鍋全部采用不銹材料，內(nèi)鍋的內(nèi)部經(jīng)過特殊處理，其光潔度符合試驗的要求。
2、流出時間數(shù)字顯示，同時可以進行兩個試樣的平行試驗，使用方便，工作效率高。
3、溫度控制器采用具有P、I、D位式調(diào)節(jié)功能的數(shù)字式溫控儀，參數(shù)設置方便，控溫精度高。
二、主要技術(shù)參數(shù)及指標
1、工作電源： AC220V±10%，50Hz；
2、標準水值： 51±1秒；
3、測定溫度： 0～100℃；
4、控溫精度： ±0.1℃；
5、恩氏粘度溫度計： 符合GB514標準；
6、量瓶規(guī)格： 200±0.2ml；
7、內(nèi)鍋： 材料為不銹鋼；
8、時間測定： Z大999.9秒；
9、計時方式： LED電子計時；
10、加熱功率： 700W；
11、環(huán)境溫度： -10～+40℃；
12、相對濕度： ≤85%；
13、整機功耗： 不大于800W。
注：時間測定可以定制Z大值為9999秒
石油產(chǎn)品恩氏粘度計雙管
石油產(chǎn)品恩氏粘度計雙管
石油產(chǎn)品恩氏粘度計雙管
 | 產(chǎn)品名稱：數(shù)字式四探針測試儀 產(chǎn)品型號： ST2253 |
數(shù)字式四探針測試儀 型號： ST2253
概述
ST2253型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準。
北京創(chuàng)業(yè) 專業(yè)鑄造品質(zhì)
儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺以及PC軟件等部分組成。
主機主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成，USB通訊接口。儀器主機所有參數(shù)設定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤和數(shù)碼開關輸入；具有零位、滿度自校功能；測試功能可自動/手動方式；儀器操作可由配套軟件在PC機上操作完成，也可脫PC機由四探針儀器面板上獨立操作完成。測試結(jié)果數(shù)據(jù)由主機數(shù)碼管直接顯示，也可連機由軟件界面同步顯示、分析、保存和打??！
北京創(chuàng)業(yè) 專業(yè)鑄造品質(zhì)
探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
北京創(chuàng)業(yè) 專業(yè)鑄造品質(zhì)
測試臺選配：一般四探針法測試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選SZT-K型測試臺，也可選配SZT-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率，選配SZT-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。
詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的特點與選型參考》點擊進入
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測量簡便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點。
儀器于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。
三、基本技術(shù)參數(shù)
北京創(chuàng)業(yè) 專業(yè)鑄造品質(zhì)
3.1 測量范圍
電 阻：1×10-4～2×105 Ω ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω
電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm
方 阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□
3.2 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定)
直 徑：SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限
SZT-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限.
長(高)度：測試臺直接測試方式 H≤100mm, 手持方式不限.
測量方位: 軸向、徑向均可
3.3. 4-1/2 位數(shù)字電壓表：
(1)量程： 20.00mV～2000mV
(2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字
3.4 數(shù)控恒流源
(1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A
(2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字
3.5 四探針探頭（選配其一或加配全部）
(1)碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調(diào)
(2)薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調(diào)
3.6. 電源
輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<20W
3.7.外形尺寸：
主 機 220mm（長）×245 mm（寬）×100mm（高）
凈 重：≤2.5kg
產(chǎn)品咨詢
地址：北京市通州區(qū)興貿(mào)三街18號院
郵箱：2748466411@qq.com
傳真：86-010-68467699
電話
微信掃一掃
當前位置：